ICS 31.080.01 CCS L 40 团体标准 T/CIE 121-2021 逆导型IGBT的热阻测试方法 Technical Method for Thermal Resistance Test of Reverse Conducting IGBT （RC-IGBT ） 2021-11-22发布 中国电子学会 发布 2022-02-01实施 全国团体标准信息平台 T/CIE 121- 2021 I 目 次 前 言 ............................................................................ II 引 言 ........................................................................... III 1 范围 ............................................................................... 1 2 规范性引用文件 ..................................................................... 1 3 术语和定义 ......................................................................... 1 4 测试系统 ........................................................................... 2 4.1 通则 ........................................................................... 2 4.2 热电偶 ......................................................................... 2 4.3 测试电路 ....................................................................... 2 4.4 测试电路要求 ................................................................... 2 4.5 恒温平台 ....................................................................... 3 4.6 K系数校准装置 .................................................................. 3 5 测试条件 ........................................................................... 3 5.1 加热电流 ....................................................................... 3 5.2 加热电压 ....................................................................... 3 5.3 测试电流 ....................................................................... 3 5.4 测试时序 ....................................................................... 3 5.5 测试延迟时间（ tMD） ............................................................. 4 6 测试程序 ........................................................................... 5 6.1 基准点温度 ..................................................................... 5 6.2 K值的确定 ...................................................................... 5 6.3 热阻测试 ....................................................................... 6 7 应记录的数据 ....................................................................... 8 7.1通则 ............................................................................ 8 7.2产品详细规范和测试报告中的数据 .................................................. 8 7.3测试报告中记录的数据 ............................................................ 8 全国团体标准信息平台 T/CIE 121- 2021 II 前 言 本文件按照GB/T 1.1 —2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中国电子学会可靠性分会提出。 本文件由中国电子学会可靠性分会归口。 本文件起草单位：工业和信息化部电子第五研究所 、电子科技大学、北京工业大学、中国振华集 团永光电子有限公司 、西安卫光半导体有限公司。 本文件主要起草人：陈媛、来萍、何小琦、冯士维、 刘宇、李彦锋 、王嘉蓉、田文燕、孟繁新、 陈义强、付志伟 、贺志远、周斌、刘昌。 全国团体标准信息平台 T/CIE 121- 2021 III 引 言 对于新型逆导型 IGBT器件（在同一个芯片中集成了 IGBT和续流二极管）在导通初期的小电流情况 下，集电极和发射极电压（ VCE）随电流增加迅速增大，当大于特定值 Vp时，VCE会突然陡降，电流密 度则陡增， I-V特性曲线上出现一段负阻区，这种现象称为回跳（snap-back ）现象。如果电流继续增 加，I-V曲线上还会出现一系列的小幅回跳 现象。由于回跳现象，逆导型IGBT采用传统电学法测量的 热阻并不准确。 现有标准采用小电流的集电极-发射极电压作为热敏参数测量 器件或模块结壳热阻， 由于逆导型IGBT 在小电流小电压时处于回跳危险区，无法准确测量逆导型IGBT 的热阻。另外，由于其 内部结构与传统 IGBT的不同，测试时的噪声参数高于标准值也会带来较大的测量误差。因此，本文件 以IGBT中体二极管导通 电压为热敏参数，建立适用于逆导型 IGBT器件的热阻测试电路和方法， 规范 逆导型IGBT 的热阻测试流程，提高测试准确性。 全国团体标准信息平台