(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202122831328.6 (22)申请日 2021.11.18 (73)专利权人 广东奥普特 科技股份有限公司 地址 523000 广东省东莞 市长安镇锦厦社 区河南工业区锦升路8号 (72)发明人 陈灵铭　 (74)专利代理 机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 专利代理师 韩丽波 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种双光路缺陷检测装置 (57)摘要 本实用新型公开了一种双光路缺陷检测装 置， 包括用于发出检测光线的灯板， 以及设于检 测光线的光路上的第一分光器件、 第二分光器件 和第一反射器件。 检测光线中的第一部分光线经 第一分光器件引射至第一被测工件， 形成第一反 射光线； 检测光线中的第二部分光线经第一反射 器件引射至第二被测工件， 形成第二反射光线； 还包括第二 分光器件， 设于第一反射光线和第二 反射光线的光路的重合位置， 用于将第一反射光 线和第二反射光线引射至目标成像位置。 本实用 新型使得包含有不同被测工件表面特征的光线 得以同时引射至目标成像位置， 达到双光路同时 进行缺陷检测的目的， 有效地节省了检测成本， 并提高了 检测效率。 权利要求书1页 说明书6页 附图3页 CN 216747446 U 2022.06.14 CN 216747446 U 1.一种双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 用于对放置于第一检测工位上的第一被测 工件， 以及放置 于第二检测工位上的第二被测工件分别进行检测， 包括： 灯板(11)， 用于发出检测光线； 第一分光器件(12)， 设于所述检测光线的光路上， 用于将所述检测光线中的第一部分 光线引射至所述第一被测工件， 所述第一部分光线被所述第一被测工件和所述第一分光器 件(12)依次反射后， 形成第一反射 光线； 第一反射器件(14)， 设于所述检测光线的光路上， 用于将所述检测光线中的第二部分 光线引射至所述第二被测工件， 所述第二部分光线被所述第二被测工件和所述第一反射器 件(14)依次反射后， 形成第二反射 光线； 第二分光器件(13)， 设于所述第一反射光线和所述第二反射光线 的光路的重合位置， 用于将所述第一反射 光线和所述第二反射 光线引射至目标成像位置 。 2.根据权利要求1所述的双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 所述第二分光器件(13)与 所述第一反射 光线和所述第二反射 光线之间的夹角均为 45°。 3.根据权利要求1所述的双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 所述第一分光器件(12)和 第二分光器件(13)均为分光 棱镜， 所述分光 棱镜由两个对合形成正方 形的直角棱镜构成。 4.根据权利要求1所述的双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 所述第一反射器件(14)为 全反射棱镜。 5.根据权利要求1所述的双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 还包括匀光器件(16)， 所 述匀光器件(16)设于所述检测光线的光路上。 6.根据权利要求5所述的双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 所述匀光器件(16)包括扩 散板， 以及贴 设于所述扩散 板上的平行膜。 7.根据权利要求5所述的双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 还包括装置外壳(10)， 所 述灯板(11)、 所述第一分光器件(12)、 所述第二分光器件(13)、 所述第一反射器件(14)和所 述匀光器件(16)均设于所述装置 外壳(10)内； 所述装置外壳(10)上设有对准于所述第一检测工位的第一出光口(102)、 对准于所述 第二检测工位的第二出光口(103)， 以及位于所述目标成像位置的拍摄窗口(101)； 所述拍 摄窗口(101)对准于成像相机(20)的镜 头(21)设置 。 8.根据权利要求7所述的双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 所述装置外壳(10)内还设 有第二反射器件(15)， 所述第二反射器件(15)对准于所述第一出光口(102)设置； 所述检测光线中的第三部分光线被所述第一被测工件反射， 经过所述第一分光器件 (12)的透射和第二反射器件(15)的反射， 与所述第一部分光线汇合。 9.根据权利要求7所述的双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 所述装置外壳(10)内设有 散热腔， 所述散热腔靠 近于所述灯板(1 1)设置； 所述散热腔上开设有用于引入散热介质的介质入口(171)， 以及用于引出散热介质的 介质出口(172)。 10.根据权利要求1所述的双光路缺陷检测装置， 其特征在于， 所述灯板(11)上均匀分 布有多个灯珠， 所述灯珠为RGB三色灯珠。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216747446 U 2一种双光路缺陷检测装 置 技术领域 [0001]本实用新型 涉及光学成像技 术领域， 尤其涉及一种双光路缺陷检测装置 。 背景技术 [0002]现如今， 为应对工业自动化背景下的产品质量检测需求， 在机器视觉检测领域中， 针对高反光工件表面的划伤检测、 芯片和硅晶片的破损缺陷检测、 精密电子电路零部件 MARK点(位置识别点)定位、 高速流水线工件表面条码识别、 外包装激光打标字符和二维码 识别等检测项目， 往 往使用同轴光源进行打光拍照和图像判别。 [0003]不同的被测工件其表面特征存在一定的差异， 以往都是针对不同类型的被测工件 分别设置不同的检测工位， 每个检测工位相对应地布置一套检测装置， 以实现不同类型被 测工件的缺陷检测。 这种检测方式需要针对不同类型的被测工件布置大量的检测工位及检 测装置， 导致检测成本居高不下； 同时， 由于需要对不同类型的工件逐类检测， 因此检测效 率较低， 难以应对如今高效率及低成本的发展需求。 实用新型内容 [0004]针对现有技术的不足， 本实用新型提供一种双光路缺陷检测装置， 解决现有技术 中需要针对多类型的工件布置大量的检测工位及检测装置， 并需要对不同类型的工件逐类 检测， 导致检测成本居高不下且检测效率较低的问题。 [0005]为实现上述目的， 本实用新型提供以下的技 术方案： [0006]一种双光路缺陷检测装置， 用于对放置于第一检测工位上的第一被测工件， 以及 放置于第二检测工位上的第二被测工件分别进行检测， 包括： [0007]灯板， 用于发出检测光线； [0008]第一分光器件， 设于所述检测光线的光路上， 用于将所述检测光线中的第一部分 光线引射至所述第一被测工件， 所述第一部分光线被所述第一被测工件和所述第一分光器 件依次反射后， 形成第一反射 光线； [0009]第一反射器件， 设于所述检测光线的光路上， 用于将所述检测光线中的第二部分 光线引射至所述第二被测工件， 所述第二部分光线被所述第二被测工件和所述第一反射器 件依次反射后， 形成第二反射 光线； [0010]第二分光器件， 设于所述第一反射光线和所述第二反射光线的光路的重合位置， 用于将所述第一反射 光线和所述第二反射 光线引射至目标成像位置 。 [0011]可选地， 所述第二分光器件与所述第一反射光线和所述第二反射光线之间的夹角 均为45°。 [0012]可选地， 所述第一分光器件和第二分光器件均为分光棱镜， 所述分光棱镜 由两个 对合形成正方 形的直角棱镜构成。 [0013]可选地， 所述第一反射器件为全反射 棱镜。 [0014]可选地， 所述的双光路缺陷检测装置， 还包括匀光器件， 所述匀光器件设于所述检说　明　书 1/6 页 3 CN 216747446 U 3