(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202122798172.6 (22)申请日 2021.11.16 (73)专利权人 东莞市伟顾德图像技 术有限公司 地址 523000 广东省东莞 市大朗镇黄草朗 社区东胜路8 8号恒光工业园B栋9 楼 (72)发明人 吴玖术　 (74)专利代理 机构 东莞市凯粤智华专利商标代 理事务所(普通 合伙) 44698 专利代理师 任文婷 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01) G01N 21/01(2006.01) G01B 11/00(2006.01) G01B 11/02(2006.01) G01B 11/14(2006.01) (54)实用新型名称 一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组 (57)摘要 本实用新型公开了一种TO系列芯片引脚尺 寸及外观检测模组， 涉及芯片检测技术领域。 本 实用新型包括底座、 芯片， 底座的长度方向上滑 动连接有相机、 检测组件,底座的宽度方向上连 接有连接框， 连接框位于检测组件和相机之间。 本实用新型通过设置的检测组件， 并且由于使用 了多片反光镜以及半透半反镜片， 使检测装置能 够多维度检测产品的外观， 相对于现有的模组， 减少了模组的空间占用并且提升芯片检测指标， 提高了芯片检测 效率， 通过设置的相机， 相机可 以更好的对芯片进行检测， 从而提高了装置的实 用性。 权利要求书1页 说明书3页 附图3页 CN 216449452 U 2022.05.06 CN 216449452 U 1.一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组， 其特征在于， 包括： 底座 （1） 、 芯片 （6） ， 底 座 （1） 的长度方向上滑动连接有相机 （2） 、 检测组件 （3） ； 底座 （1） 的宽度方向上 连接有连接 框 （4） ， 连接 框 （4） 位于检测组件 （3） 和相机 （2） 之间； 底座 （1） 的两侧均连接有连接组件 （5） ， 检测组件 （3） 位于两连接组件 （5） 之间， 芯片 （6） 位于检测组件 （3） 内。 2.如权利要求1所述的一种 TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组， 其特征在于， 连接组 件 （5） 包括： 安装在底座 （1） 的水平方向连接的光源遮光板 （501） 和固定板 （502） ， 固定板 （502） 在远离相机 （2） 的一侧连接有定位板 （5 04） 。 3.如权利要求1所述的一种 TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组， 其特征在于， 检测组 件 （3） 包括： 滑动配合在底座 （1） 长度方向上的固定座 （301） 和支撑座 （302） 、 装设在底座 （1） 一侧的背光光源支撑板 （303） 、 连接框 （4） 的一侧连接有板体 （305） ， 板体 （305） 下侧的坡度 处连接有站立度检测反光镜 （3 06） ， 且板体 （3 05） 位于两固定板 （502） 之间。 4.如权利要求3所述的一种 TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组， 其特征在于， 背光光 源支撑板 （303） 的一侧连接有站立度检测背光光源 （307） ， 站立度检测背光光源 （307） 位于 远离固定座 （3 01） 的一侧。 5.如权利要求4所述的一种 TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组， 其特征在于， 固定座 （301） 和支撑座 （302） 的坡度处分别连接有底部成像全反镜 （309） 和综合成像半透半反镜 （304） 并且固定座 （3 01） 和支撑座 （3 02） 的坡度均位于 靠近连接框 （4） 的一侧。 6.如权利要求5所述的一种 TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组， 其特征在于， 定位板 （504） 的第一侧 和第二侧分别连接有半透半反棱镜模组 （3 08） 和侧面反棱镜光源 （310） 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216449452 U 2一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组 技术领域 [0001]本实用新型属于芯片检测技术领域， 特别是涉及一种T O系列芯片引脚尺寸及外观 检测模组。 背景技术 [0002]晶体管发明并大量生产之后， 各式固态半导体 组件如二极管、 晶体管等大量使用， 取代了真空管在电路中的功能与角色。 到了20世纪中后期半导体制 造技术进步， 使得集成 电路成为可能。 相对于手工组装电路使用个别的分立电子组件， 集成电路可以把很大数量 的微晶体管集成到一个小芯片， 是一个巨大的进步。 集成电路的规模生产能力， 可靠性， 电 路设计的模块 化方法确保了快速采用标准 化集成电路代替了设计使用离 散晶体管。 [0003]随着半导体行业的发展以及国家对半导体产业的支持， 半导体行业现在需求的速 度越来越快， 检测要求也越来越高， 在此前的光学检测模组对TO系列的产品需要使用两套 模组分别对产品的尺寸外观进行检测， 并且无法对产品的两侧 面缺陷进行检测， 产品的的 管控存在空白区域。 实用新型内容 [0004]本实用新型的目的在于提供一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组， 解决了上 述现有技 术中无法对产品的两侧面 缺陷进行检测， 产品的 的管控存在空白区域的问题。 [0005]为达上述目的， 本实用新型 是通过以下技 术方案实现的： [0006]一种TO系列芯片引脚尺寸及外观检测模组， 包括底座、 芯片， 底座的长度方向上滑 动连接有相机、 检测组件； [0007]底座的宽度方向上 连接有连接 框， 连接框位于检测组件和相机之间； [0008]底座的两侧均连接有连接组件， 检测组件位于两连接组件之间， 芯片位于检测组 件内。 [0009]可选的， 连接组件包括： 安装在底座的水平方向连接的光源遮光板和固定板， 固定 板在远离相机的一侧连接有定位板 。 [0010]可选的， 检测组件包括： 滑动配合在底座长度方向上的固定座和支撑座、 装设在底 座一侧的背光光源支撑板、 连接框的一侧连接有板体， 板体下侧的坡度 处连接有站立度检 测反光镜， 且板体位于 两固定板之间。 [0011]可选的， 背光光源支撑板 的一侧连接有站立度检测背光光源， 站立度检测背光光 源位于远离固定座的一侧。 [0012]可选的， 固定座和支撑座的坡度处分别连接有底部成像全反镜和综合成像半透半 反镜并且固定座和支撑座的坡度均位于 靠近连接框的一侧。 [0013]可选的， 定位板的第一侧和第二侧分别连接有半透半反棱镜模组和侧面反棱镜光 源。 [0014]本实用新型的实施例具有以下有益效果：说　明　书 1/3 页 3 CN 216449452 U 3