(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202122877791.4 (22)申请日 2021.11.23 (73)专利权人 苏州光筑激光设备有限公司 地址 215000 江苏省苏州市苏州工业园区 东旺路8号6幢1楼107室 (72)发明人 王硕　 (74)专利代理 机构 无锡风创知识产权代理事务 所(特殊普通 合伙) 32461 专利代理师 李燕斐 (51)Int.Cl. G01N 21/73(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种ICP光谱仪全频 段面形误差收敛装置 (57)摘要 本实用新型公开了一种ICP光谱仪全 频段面 形误差收敛装置， 具体涉及光谱仪技术领域， 包 括设备外框， 聚光调整架， 所述设备外框包括照 射屏幕， 所述照射屏幕的内侧中央设置有射程调 距器， 所述聚光调整架设置在设备外框的内侧， 所述聚光调整架包括聚光集束架， 所述聚光集束 架的底端卡接有滑杆， 所述滑杆的一侧转动连接 有转柱， 该ICP光谱仪全频段面形误差收敛装置， 推动滑板通过伸缩卡柱带动挤压卡接夹板进行 偏折， 而卡接夹板带动中央卡柱 块卡住相连的仪 器连接杆， 致使卡接夹板张开贴近仪器连接杆的 两侧， 增大两者间的滑动摩擦力， 从而实现了提 高了设备在检测时的安装 稳定性， 避免由于晃动 而发生光谱接收混乱。 权利要求书1页 说明书4页 附图3页 CN 216870377 U 2022.07.01 CN 216870377 U 1.一种ICP光谱仪全频段面形误差收敛装置， 包括设备外框(1)， 聚光调整架(3)， 其特 征在于： 所述设备外框(1)包括照射屏幕(101)， 所述照射屏幕(101)的内侧中央设置有射程 调距器(102)， 所述聚光调整架(3)设置在设备外框(1)的内侧， 所述聚光调整架(3)包括聚 光集束架(301)， 所述聚光集束架(301)的底端卡接有滑杆(302)， 所述滑杆(302)的一侧转 动连接有转柱(303)， 所述聚光集束架(301)的一侧卡接有连接滑杆(306)， 所述连接滑杆 (306)的外侧卡接有限位板(304)， 所述转柱(303)的底端转动 连接有联动推板(305)， 所述 滑杆(302)的底端设置有扭矩弹簧杆(307)， 所述射程调距器(102)卡接在聚光集束架(301) 的外侧。 2.根据权利要求1所述的一种ICP光谱仪全频段面形误差收敛装置， 其特征在于： 所述 设备外框(1)的两侧设置有检测固定架(2)， 所述检测固定架(2)的两侧开设有滑槽， 所述检 测固定架(2)的底端设置有空心槽， 所述检测固定架(2)的空心槽与设备外框(1)呈拆卸状 态设置。 3.根据权利要求2所述的一种ICP光谱仪全频段面形误差收敛装置， 其特征在于： 所述 检测固定架(2)包括中央卡柱 块(201)， 所述中央卡柱 块(201)的内侧开设有螺纹孔， 所述中 央卡柱块(201)的两侧设置有卡接夹板(202)， 所述卡接夹板(202)的两侧设置有辅助推板 (206)， 所述辅助推板(206)的底端设置有推动滑板(204)， 所述辅助推板(206)的两侧设置 有折叠卡板(203)， 所述卡接夹板(202)的底端设置有伸缩卡柱(205)， 所述检测固定架(2) 的滑槽与推动滑板(204)呈滑动状态设置 。 4.根据权利要求1所述的一种ICP光谱仪全频段面形误差收敛装置， 其特征在于： 所述 聚光集束架(301)的数量为多组， 多组所述聚光集束架(301)关于射程调距器(102)的横直 中心线呈 下压状态设置， 所述聚光 集束架(3 01)的表面设有聚光网。 5.根据权利要求4所述的一种ICP光谱仪全频段面形误差收敛装置， 其特征在于： 所述 滑杆(302)与转柱(303)呈偏转状态设置， 所述扭矩弹簧杆(307)通过滑杆(302)的压力呈压 缩状态设置 。 6.根据权利要求5所述的一种ICP光谱仪全频段面形误差收敛装置， 其特征在于： 所述 聚光集束架(301)通过射程调距器(102)的旋转呈下压状态， 所述射程调距器(102)的内侧 设置有光谱照射头 部。 7.根据权利要求3所述的一种ICP光谱仪全频段面形误差收敛装置， 其特征在于： 所述 折叠卡板(203)通过射程调距器(102)的同步挤压呈扩充张开状态， 所述卡接夹板(202)通 过伸缩卡柱(20 5)的固定呈对外张开 卡接状态设置 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216870377 U 2一种ICP光谱 仪全频段 面形误差收敛装 置 技术领域 [0001]本实用新型涉及光谱仪技术领域， 更具体地说， 本实用新型涉及一种ICP  光谱仪 全频段面形误差收敛装置 。 背景技术 [0002]ICP发射光谱仪即电感耦合等离子体光谱仪， ICP发射光谱法是根据处于激发态的 待测元素原子回到基态 时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法， ICP发射光谱仪主 要应用于无机元素的定性及定量分析， 而其通常的使用方式是将光源发出的复合光经单色 器分解成按 波长顺序排列的谱线， 形成光谱， 用检测器 检测光。 [0003]但是目前的ICP 光谱仪在使用时， ICP发射光谱法与 采用经典光源的发射光谱法相 比， 因为只改变了激发光源， 提高的只是光源的分析性能， 所以光谱干扰的问题依然存在， 并且没有得到任何改善， 光线的过于 分散致使光谱过多容易被干扰， 因此， 本领域技术人员 提供了ICP光谱仪全频 段面形误差收敛装置 。 实用新型内容 [0004]为了克服现有技术的上述缺陷， 本实用新型的实施例提供一种ICP光谱仪全频段 面形误差收敛装置， 相互配合以解决上述背景技 术中提出的问题。 [0005]为实现上述目的， 本实用新型提供如下技术方案： 一种ICP光谱仪全频段面形误差 收敛装置， 包括设备外框， 聚光调整架， 所述设备外框包括照射屏幕， 所述照射屏幕的内侧 中央设置有射程调距器， 所述聚光调整架设置在设备外框的内侧， 所述聚光调整架包括聚 光集束架， 所述聚光集束架的底端卡接有滑杆， 所述滑杆的一侧转动连接有转柱， 所述聚光 集束架的一侧 卡接有连接滑杆， 所述连接滑杆的外侧 卡接有限位板， 所述转柱的底端转动 连接有联动推板， 所述滑杆的底端设置有扭矩弹簧杆， 所述射程调距器卡接在聚光集束架 的外侧， 射程调距器通过旋转带动聚光集束架向下侧移动， 聚光集束架通过转柱挤压滑杆 实现偏转， 而滑杆通过连接滑杆带动联动推板 向上抬起， 联动推板在聚光调整架的内部滑 动轨道上限位滑动， 致使滑杆通过扭矩弹簧杆展开同角度向上抬起， 聚光集束架从开始的 聚拢状态直至慢 慢向外打开， 对复数光束接收进行引导。 [0006]优选的， 所述设备外框 的两侧设置有检测固定架， 所述检测固定架的两侧开设有 滑槽， 所述检测固定架的底端设置有空心槽， 所述检测固定架的空心槽与设备外框呈拆卸 状态设置 。 [0007]优选的， 所述检测固定架包括中央卡柱块， 所述中央卡柱块的内侧开设有螺纹孔， 所述中央卡柱块的两侧设置有卡接夹板， 所述卡接夹板的两侧设置有辅助推板， 所述辅助 推板的底端设置有推动滑板， 所述辅助推板的两侧设置有折叠卡板， 所述卡接夹板的底端 设置有伸缩卡柱， 所述检测固定架的滑槽与推动滑板呈滑动状态设置， 推动滑板通过伸缩 卡柱带动挤压卡接夹板进行偏折， 而卡接夹板带动中央卡柱块卡住相连的仪器连接杆， 致 使卡接夹板张开贴近 仪器连接杆的两侧， 增大两者间的滑动摩擦力。说　明　书 1/4 页 3 CN 216870377 U 3