(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210933144.7 (22)申请日 2022.08.04 (71)申请人 广东工业大 学 地址 510090 广东省广州市越秀区东 风东 路729号 (72)发明人 吴宗泽　郑杰　任志刚　魏聪　 龚文超　梁晓沣　刘臻铭　 郭马萨迪　周坤　 (74)专利代理 机构 广州粤高专利商标代理有限 公司 44102 专利代理师 高棋 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06V 10/25(2022.01) G06V 10/26(2022.01)G06V 10/36(2022.01) G06V 10/44(2022.01) G06V 10/48(2022.01) G06V 10/762(2022.01) (54)发明名称 一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取 方法 (57)摘要 本发明公开了一种LCD屏幕中线缺陷检测及 缺陷信息提取方法、 系统及计算机可读存储介 质， 方法包括： S1.获取待检测图像， 对待检测图 像进行ROI图像裁剪， 用于提取图像中实际待检 测的区域； S2.利用不同尺寸的滤波核对得到的 ROI图像进行高斯滤波， 得到ROI图像的前景图和 背景图； S3.将所述前景图和背景图进行图像差 分， 得到前背景分离图； S4.对所述前背景分离图 进行Canny边缘检测， 得到对缺陷进行了描边的 Canny检测图； S5.对Canny检测图进行渐进概率 霍夫线变换， 得到线缺陷的信息； S6.对提取出来 的缺陷信息重新聚类， 获取准确的缺陷信息。 本 发明提高了屏幕中线缺陷检测准确度和效率。 权利要求书2页 说明书9页 附图7页 CN 115375629 A 2022.11.22 CN 115375629 A 1.一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取 方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： S1.获取待检测图像， 对待检测图像进行ROI 图像裁剪， 用于提取图像中实际待检测的 区域； S2.利用不同尺寸的滤波核对得到的ROI图像进行高斯滤波， 得到ROI 图像的前景图和 背景图； S3.将所述前 景图和背景图进行图像差分， 得到前背景分离图； S4.对所述前背景分离图进行Can ny边缘检测， 得到对缺陷进行了描边的Can ny检测图； S5.对Can ny检测图进行渐进概 率霍夫线变换， 得到线缺陷的信息； S6.对提取 出来的缺陷信息 重新聚类， 获取准确的缺陷信息 。 2.根据权利要求1所述的一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取方法， 其特征在 于， 所述ROI图像裁剪包括两种： 一、 手动裁剪、 二、 计算屏幕的最外缘的轮廓， 然后根据轮廓 裁剪出ROI图像。 3.根据权利要求1所述的一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取方法， 其特征在 于， 步骤S2中所述不同尺寸的滤波核包括： 5 ×5的小核， 105 ×105的大核， 其中5 ×5的小核 用于尽可能消除摩尔纹的影响， 10 5×105的大核用于获取一张颜色均衡的背景图。 4.根据权利要求1所述的一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取方法， 其特征在 于， 步骤S4中通过设置双阈值进行Canny边缘检测， 所述双阈值记作高阈值H和低阈值L， 其 中， 高阈值的大小 是低阈值的设定倍数， 具体检测如下： 若图像中的任一像素的梯度值t>H， 则保留； 若图像中的任一像素的梯度值t<L， 则舍弃； 若图像中的任一像素的梯度值L<＝t<＝H， 则从该像素的领域寻找像素梯度值， 如果存 在像素梯度值高于高 阈值， 则保留， 如果没有， 则舍弃； 根据保留的像素描绘出缺陷边 缘。 5.根据权利要求1所述的一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取方法， 其特征在 于， 对Can ny检测图进行渐进概 率霍夫线变换 具体过程 为： S501.随机抽取Canny检测图中的一个特征点， 即边缘点， 如果该边缘点已经被标定为 是某一条直线上 的点， 则继续在剩 下的边缘点中随机抽取一个边缘点， 直到所有边缘点都 抽取完了为止； S502.对抽取的边 缘点进行霍夫变换， 并进行累加 和计算； S503.选取在霍夫空间内值最大的点， 如果该点大于给定阈值， 则进行步骤S504， 否则 返回S501； S504.根据霍夫变换得到的最大值， 从该最大值点出发沿着直线的方向位移， 从而找到 直线的两个端点； S505.计算直线的长度， 如果大于给定阈值， 则被认为是好的直线输出， 回到步骤S5 01； S506.输出由两个线段端点 来表示线段的集 合。 6.根据权利要求1所述的一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取方法， 其特征在 于， 对提取 出来的缺陷信息 重新聚类， 获取准确的缺陷信息具体步骤为： S601.求出线段集合里每条线段的角度θ( θ∈{θ| ‑90°<θ<90°})， 然后将线段按角度进 行分簇， 得到线段按角度分类的簇； 其中， 角度不同的线段显然不会是一条线上的权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115375629 A 2S602.将步骤S601中得到的簇里的线段进行坐标系投影， 角度 为0的线段向Y轴投影， 角 度为90的线段向X轴投影， 角度在(0,90)或( ‑90,0)的线 段， 则先将坐标系旋转， 求出坐标系 旋转后的点的坐标， 再向坐标系投影； S603.对于角 度在(90， ‑90)的线段则先进行坐标系旋转， 再向旋转后的坐标系进行投 影； S604.将投影出来的点进行聚类； S605.将分好簇的线段进行处 理， 得到线缺陷的缺陷信息 。 7.根据权利要求6所述的一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取方法， 其特征在 于， 坐标旋转 步骤如下： 在原坐标系XoY中， 若线段的角 度θ为(0,90)， 则将XoY绕原点沿逆时针方向旋转θ度变 成坐标系SoT； 若 线段的角度 θ 为( ‑90,0)绕原点沿顺时针方向旋转θ度变成坐标系SoT； 坐标旋转公式如下： 设有某点p， 在原坐标系中的坐标为(x,y),旋转后的新 坐标为(s,t)， 则： s＝x·cos( θ )+y·sin( θ ) t＝y·cos( θ )‑x·sin( θ ) 求出线段在旋转后的坐标系SoT中的端点坐标， 然后将其投影到SoT坐标轴上获得投影 点(s,t)。 8.一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信 息提取系统， 其特征在于， 该系统包括： 存储器、 处理器， 所述存储器中包括一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取方法程序， 所述一种 LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取 方法程序被所述处 理器执行时实现如下步骤： S1.获取待检测图像， 对待检测图像进行ROI 图像裁剪， 用于提取图像中实际待检测的 区域； S2.利用不同尺寸的滤波核对得到的ROI图像进行高斯滤波， 得到ROI 图像的前景图和 背景图； S3.将所述前 景图和背景图进行图像差分， 得到前背景分离图； S4.对所述前背景分离图进行Can ny边缘检测， 得到对缺陷进行了描边的Can ny检测图； S5.对Can ny检测图进行渐进概 率霍夫线变换， 得到线缺陷的信息； S6.对提取 出来的缺陷信息 重新聚类， 获取准确的缺陷信息 。 9.根据权利要求8所述的一种LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取方法， 其特征在 于， 所述ROI图像裁剪包括两种： 一、 手动裁剪、 二、 计算屏幕的最外缘的轮廓， 然后根据轮廓 裁剪出ROI图像。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质中包括LCD屏幕 中线缺陷检测及缺陷信息提取方法程序， 所述LCD屏幕中线缺陷检测及缺陷信息提取方法 程序被处理器执行时， 实现如权利要求1至7中任一项所述的一种LCD屏幕中线缺陷检测及 缺陷信息提取 方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115375629 A 3